硫系，紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測(cè)量?jī)x，采用850nm或940nm波長(zhǎng)，能高速的測(cè)量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布，安裝既有的操作簡(jiǎn)單和實(shí)用的軟件WPA-View，可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)可搭配流水線對(duì)應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng) 主要特點(diǎn)： 紅外波長(zhǎng)的雙折射/相位差面分布測(cè)量  硫系、紅外透明樹脂等的光學(xué)畸變?cè)u(píng)估  小型、簡(jiǎn)単操作、高速測(cè)量 WPA-NIR能高速的測(cè)量/分析波長(zhǎng)為850nm或940nm的雙折射分布 安裝既有的操作簡(jiǎn)單和實(shí)用的軟件WPA-View 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù) 可搭配流水線對(duì)應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)   主要功能： 高速測(cè)量面的雙折射/相位差分布   NIR波長(zhǎng)僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息 測(cè)量數(shù)據(jù)的保存/讀取簡(jiǎn)單快捷 全部的測(cè)量結(jié)果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測(cè)量結(jié)果做比較等 豐富的圖形創(chuàng)建功能  可以自由制作線圖形和直方圖 測(cè)量結(jié)果可以在一個(gè)圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出     主要參數(shù)： 實(shí)際測(cè)量對(duì)比：