低氣壓試驗(yàn)箱GB/T4937.2-2006《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分 低氣壓》本部分適用于半導(dǎo)體器件的低氣壓試驗(yàn)。本項(xiàng)試驗(yàn)的目的是測(cè)定元器件和材料避免電擊穿失效的能力，而這種失效是由于氣壓減小時(shí)，空氣和其他絕緣材料的絕緣強(qiáng)度減弱所造成的。本項(xiàng)試驗(yàn)僅適用于工作電壓超過(guò)1000V的器件。

    低氣壓試驗(yàn)箱GB/T4937.2-2006本項(xiàng)試驗(yàn)適用于所有的半導(dǎo)體器件。本試驗(yàn)僅適用于軍事和空間領(lǐng)域。

    本項(xiàng)低氣壓試驗(yàn)方法和IEC60068-2-13大體上一致，但鑒于半導(dǎo)體器件的特殊要求，使用本部分條款。低氣壓試驗(yàn)箱GB/T4937.2-2006標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用范圍 http://www.ysl17.com.cn/